为拓宽师生学术视野、促进光电方向前沿学术交流，2026年5月28日，武汉科技大学物理与力学学院特邀华中科技大学王俊亚教授莅临学院，以“微光机电系统及其应用”为题作专题学术报告。学院副院长曾国伟老师、应用物理系主任李钰老师、相关专业教师、研究生及本科生代表到场聆听，报告会由曾国伟老师主持。

报告中，王俊亚教授从MEMS微镜的需求场景和面临问题两方面入手，指出微镜是投影、成像的核心元器件，广泛应用于航天、消费、医疗等行业，其面临问题主要包括分辨率如何决定扫描频率、如何设计并制备所需器件、如何控制好微镜与光源等。针对微镜应用于成像、投影的可行性问题，王教授团队提出了扫描成像理论框架，解决了高分辨率的扫描模式问题。接下来王教授介绍了团队在微镜方向的研究历程、设计方法、电学控制、以及突破硅材料极限的系统方法，介绍了在激光雷达、激光测量、投影、传感等方面的实际应用案例，最后提出了未来发展的愿景。

报告内容深入浅出、趣味十足，理论与丰富应用案例相结合，兼具学术深度与产业价值。在场师生围绕MEMS微镜相关性能、技术等问题积极提问交流，王俊亚教授逐一细致解答，现场学术氛围浓厚热烈。最后，王教授还针对学生提出的关于如何做本科毕设、考研保研等问题做了耐心解答，给大家传递了正确的价值观。

此次学术报告搭建了我院师生与领域专家面对面交流的良好平台，帮助师生精准把握微光机电系统与激光扫描和成像交叉领域的前沿发展动态，对推动学院在光电方向的学科建设、科研创新与人才培养具有积极作用。

报告题目：微光机电系统及其应用

个人简介：

王俊亚，中共党员，河南禹州人。工学博士，华中科技大学机械学院教授，入选国家级青年人才和湖北省青年人才项目。主要从事MEMS成像激光雷达、激光测距、光束扫描控制等方面的研究。

报告摘要：

自1982年第一次出现MOEMS器件以来，以MEMS微镜为代表的MOEMS器件正在深刻改变以成像激光雷达、投影显示为代表的光束指向操控技术领域，MEMS微镜的指标也即将接近单晶硅材料的极限，随着成像和投影对高分辨率的需求，如何在有限的MEMS微镜品质因数下实现高分辨率，同时不降低点云图像的帧频和视场范围，是MEMS微镜真正走向市场的关键掣肘。本报告从扫描和成像两个方面出发，归纳了一套完备的扫描成像理论体系,发展了在激光领域的高精度测量方法.在扫描成像理论框架下，解决了高分辨率、高帧频、大视场对MEMS微镜器件、激光测量的解析化的技术需求难题，为MEMS微镜在成像、显示领域的应用提供了技术支撑。